发布日期: 2025 年 5 月 21 日
Minitab Web App 的新增功能
Wafer 图
Wafer 图是 Graph Builder 中添加的一种新的可视化工具,能够精确定位晶圆上有缺陷的集成电路或芯片的位置。Wafer 图是半导体制造中使用的专用热图,用于识别制造问题的潜在根本原因,并有助于应用统计过程控制方法来监控和改进制造过程。
箱线图 Y 尺度对数变换
Graph Builder 现在包含将对数转换应用于箱线图上的 Y 尺度的选项,以便您可以可视化高度偏斜或受严重异常值影响的连续数据的分布。
快速设计
快速设计是 DOE 菜单中的一个简单引导式对话框,可帮助您开始选择适合您问题的设计。它包含最常用的设计设置:确定性筛选、因子、一般全因子、响应曲面、混料和田口设计。
命令行和历史记录
“命令行和历史记录”窗格现已集成到 Minitab Statistical Software Web 应用程序中。您可以使用此工具对一组新数据快速重复分析,或构建宏以自动执行一系列分析。
Minitab Web App 中已解决的问题
- 意外行为发生在图形摘要和小数据中。(187463)
- 删除报表注释无法按预期工作。(187497)
- 在以数字作为列名的属性一致性分析中,会出现不正确的错误处理。(187263)
- 方差分析模型控件不处理某些字符。(183904)
Minitab Data Center 的新增功能
拆分文本列
您可以将包含由分隔符分隔的值的列拆分为新列。例如,您可以将每个单元格包含三个值(以逗号分隔)拆分为三个新列的列。
从列中提取文本值
您可以提取特定数量的字符或使用索引创建新列或覆盖当前列。
标准化色谱柱长度
您可以指定是标准化所有列的行数,还是允许数据集的列长度不相等。
从源刷新数据
当原始源数据文件有更新时,您可以在 Data Center 中提取对文件的最新更改。
Minitab Workspace Web 应用程序中的新增功能
两个新模板
此版本的 Workspace 在 Minitab 解决方案中心提供了两个新模板。现在,您可以使用 P 图并使用 Checklist 保持井井有条。
改进的打印
您可以通过选择应用程序视图栏上的打印或右键单击导航器中的工具并选择打印来打印整个地图和头脑风暴工具。在浏览器的打印视图中,您可以打印该工具,或者使用打印到 PDF 或 另存为 PDF。您还可以调整打印设置,例如布局、比例和质量。
Minitab Dashboards的新增功能
平移/缩放
您可以使用本机缩放控件调整画布区域的缩放级别,而不是使用浏览器缩放。您还可以垂直和水平平移,而无需依赖画布滚动条。
允许在编辑模式下进行交互和分页
您可以在 Present (演示) 和 Edit (编辑) 模式下与图形元素完全交互。您可以查看图形工具提示、缩放和平移图形数据区域、使用时间序列和控制图的图形刻度导航器/滑块、与图形图例项交互等。
除了使用 Navigator 在 Edit 模式下切换页面外,您还可以使用 Present 模式中显示的相同页面控件来选择仪表板的不同页面。
多选资产和切片器
在编辑模式下,你可以选择多个资产和切片器来拖动、移动或删除它们。
简化的编辑行为
Asset (资产) 菜单的功能得到了改进。在 Edit (编辑) 模式下,您可以右键单击以访问 Asset (资产) 菜单。
切片器交互性
您可以在 Edit 模式下与切片器交互。这些更改适用于所有活动资产。
联机存储库中已解决的问题
- 当由于云存储帐户(Microsoft OneDrive® 和 Google Drive™)中的空间不足而导致自动保存失败时,您不会收到通知。
- OneDrive 中仅显示前 200 个文件。
- 当您通过电子邮件共享 Minitab 专有文件时,OneDrive 尝试向用户显示文件预览未成功,并且选择打开按钮无法成功打开文件。